『検査の限界を突破！新AI機能で欠陥検査に革新を』ウェビナー

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検査の限界を突破！
新AI機能で欠陥検査に革新を

こんな方におすすめ

・AI 画像検査を導入したが、使いこなせていない
・ルールベースでできなかった欠陥検査を実現したい
・AI 画像検査のメンテナンスコストを抑えたい

「FH シリーズ」は、新AI 機能を搭載し、あきらめていた欠陥検査が誰でも簡単に実現します。AI 導入でありがちな「過検出」「導入に手間と時間がかかる」「部品が多い」というお悩みを解消します。

セミナー概要

開催日	2025/11/5（水）
開催時間	16:00～16:40
会場	オンラインセミナー（Zoom）
参加費	無料
アジェンダ	1.エフ・エー・テクノの挨拶と紹介（5分） 2.本編『検査の限界を突破！新AI機能で欠陥検査に革新を』（30分）なぜ今「FH-AI」なのか？ FH-AIのコンセプトと特長操作性・導入のしやすさ適用アプリケーション事例競合比較・導入メリット導入・検証フローとサポート体制 3.質疑応答（5分）

どなたでもお気軽にご参加ください！

下記フォームにご記入ください。